2025.11.02
技術コラム

プローブピンとは電子部品の導通検査に使われるピンのことです。コンタクトプローブとも呼ばれます。先端にあるプランジャーを検査対象物に接触させて、断線や短絡の検知や、高周波の測定をします。プローブピンはプランジャー、バレル、バネの3要素で構成されており、プランジャーにバネの荷重が作用することで適正な圧力で検査対象物に接触します。
プローブピンを導通検査用に使う理由は、電圧や電流値を本来の安定した状態で入力するためです。例えば、オシロスコープには次の機能が要求されています。
・微小な信号であってもオシロスコープまで確実に運ぶ
・ターゲットに接触させつつも被測定回路の動作に影響を与えない
・外部で発生しているノイズの流入を防ぐ

プローブにただの金属線を使用すると、オシロスコープの波形にはノイズが走り、ギザギザの波形になってしまいます。プローブは手でつかんでもノイズが混入しないように、ケーブルにシールド被覆線を使い、さらにプローブの先端を完全にシールドすることで、ノイズがのらないような加工をしています。
また、プローブピンで検査対象物を抑えるときに、わずかな振動でも取得する波形が変わるため、ピンが振動で動いても、接触圧力が変わらないように先端部のプランジャーをバネで支えています。
プローブピンは以下のことに注意する必要があります。
マイクロニードルアレイは固形製剤のため、常温で輸送・保管が可能です。冷蔵のための設備を準備する必要がないため、パンデミックが発生した際に多くの人に接種することができます。また、注射のように使用者が有資格者に限定されていないため、自分で投与することが可能です。その他、投与に痛みを伴いにくい、出血しない、使い捨てができる、飲む薬に比べて効き目が早いなどのメリットがあります。
半導体検査では多くの電極の導通を同時に検査するため、検査治具によって多数のプローブピンを平行に配列した状態で固定をします。プローブピンの片側を検査機器側のプリント基板に接触させた状態で治具を配置し、もう片側に検査対象の半導体をセットして導通検査を行います。
そのため、半導体検査用のプローブピンはピンの両側に電極と接触するプランジャーを配置しています。プランジャーの先端形状はそれぞれが接触する端子の形状に合わせます。例えば、電極の形状が球体であれば、プローブピンの形状は球体を受け止めるよう、中央部が凹んだ形状に加工します。
プローブの先端形状は検査対象側の電極の形状によって変わることは先に述べましたが、主に以下に記載する形状の種類があります。







トクセン工業の旋盤加工技術と微細領域での分析・測定技術を活かし、高精度CNC精密自動旋盤による微細・精密切削加工技術を確立しました。センサ、医療用器具やコンタクトプローブなど、主にφ3mm以下の丸物微細精密切削加工品の加工が可能です。プローブピンの先端形状は切削加工により対応できるため、さまざまな形状の加工が可能です。

・極細・段付き加工
・各種端面加工
・深穴加工
・穴あけ加工
・砲弾形状加工
・鏡面仕上げ加工
・W(タングステン)
・3% Re-W(レニウムタングステン)
・Pd Alloy(パラジウム Normal)
・Pd Alloy(パラジウム Hi Spec)
・Be-Cu(ベリリウム銅)
・Au Alloy(金合金)
トクセン工業では、指定されたプローブピンの加工だけではなく、測定する電子部品の形状に合わせた最適なプローブピンの提案が可能です。プローブピンの仕様やお見積りに関する技術的なお悩みがありましたら、こちらからご相談ください。